一鍵式的發(fā)展歷程：

一鍵式測(cè)量?jī)x又被稱作閃測(cè)儀，快速測(cè)量?jī)x，是一種快速，簡(jiǎn)單，智能批量測(cè)量工件二維平面尺寸的儀器。其核心優(yōu)勢(shì)在于能夠快速的匹配測(cè)量小型的精密零件。那么一鍵式測(cè)量?jī)x是如何出現(xiàn)的？

接觸式工具測(cè)量是最初使用的工業(yè)尺寸測(cè)量工具（卡尺，千分尺，高度規(guī)等），但是隨著工業(yè)產(chǎn)品的發(fā)展，測(cè)量的種類的要求增多，接觸式測(cè)量工具比較單一且測(cè)量量增大，工廠產(chǎn)品的測(cè)量不能滿足現(xiàn)在的測(cè)量種類和效率，因此開發(fā)了工業(yè)投影機(jī)。

工業(yè)投影機(jī)是早期允許使用工業(yè)尺寸測(cè)量的非接觸式工具。它是通過透鏡、物鏡和光源，將被測(cè)量物體的三維形狀投影到二維平面的屏幕上，并將投射圖像與標(biāo)準(zhǔn)圖像對(duì)比，從而確定待測(cè)物的尺寸，位置，形狀等參數(shù)。隨著工廠產(chǎn)品的測(cè)量不能滿足現(xiàn)在的測(cè)量精度與效率，因此開發(fā)了影像測(cè)量?jī)x器。

影像測(cè)量?jī)x又分手動(dòng)影像測(cè)量?jī)x，半自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x和全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x，影像測(cè)量?jī)x的歷史悠久，但是在工業(yè)不斷發(fā)展的大環(huán)境下，對(duì)影像測(cè)量?jī)x提出新的測(cè)量要求。

雖然影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量精度和速度都有了很大的提高，但是測(cè)量原理仍然通過光柵尺讀數(shù)，需要逐個(gè)產(chǎn)品擺正或建立產(chǎn)品的坐標(biāo)以及頻繁的對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行對(duì)焦，少量產(chǎn)品及單個(gè)尺寸可以很多的測(cè)量，但是如果需要全尺寸、全批次檢測(cè)的話，測(cè)量大量的產(chǎn)品或者多尺寸的產(chǎn)品就要花費(fèi)大量的時(shí)間和金錢。所以需要投入很多影像測(cè)量?jī)x器，配備專業(yè)的測(cè)量人員。更重要的是，雖然投入了這么多，但測(cè)量效率卻無法提高，大量時(shí)間都花在了測(cè)量上。（可以舉例子：富士康，伯恩，長(zhǎng)盈等）

為什么產(chǎn)品要一個(gè)一個(gè)測(cè)量？為什么我們不能通過多個(gè)產(chǎn)品進(jìn)行一起測(cè)量？如何發(fā)展同時(shí)提高測(cè)量技術(shù)產(chǎn)品的多個(gè)不同尺寸？如何能夠確保精度的同時(shí)又能保證工程測(cè)量工作效率？如何讓測(cè)量方法更加簡(jiǎn)單化，易操作？正是基于這樣的測(cè)量難點(diǎn)，一鍵式測(cè)量?jī)x才能應(yīng)運(yùn)而生。

一鍵式測(cè)量?jī)x的原理和結(jié)構(gòu)組成：

一鍵式測(cè)量?jī)x的核心硬件是由上下光源、高像素CCD相機(jī)、大視角大景深遠(yuǎn)心鏡頭及固定載物臺(tái)組成，結(jié)構(gòu)相對(duì)簡(jiǎn)單。

一鍵式影像測(cè)量?jī)x是一種新型的影像測(cè)量技術(shù)。它和傳統(tǒng)的工業(yè)投影機(jī)和影像測(cè)量?jī)x不同的是它不再需要光柵尺作為精度標(biāo)，也不經(jīng)過大焦距的鏡頭經(jīng)過放大產(chǎn)品影像來保障測(cè)量精度。一鍵式影像測(cè)量?jī)x通過一個(gè)雙側(cè)的遠(yuǎn)心鏡頭，修正光源造成的假象，使用物體不隨高低不同而扭曲，消除額外的測(cè)量誤差。將產(chǎn)品輪廓影像縮小數(shù)倍或數(shù)十倍后傳遞至幾百萬像素高分辨率CCD相機(jī)上做數(shù)字化處理，再由有著強(qiáng)大計(jì)算能力的亞像素細(xì)分技術(shù)將精度提到0.01像素，相當(dāng)于提高100倍的系統(tǒng)分辨率。最后通過以高像素相機(jī)微小像素點(diǎn)行程的面補(bǔ)償校正技術(shù)，控制鏡頭畸變式產(chǎn)品成像更加真實(shí)，減少因鏡頭畸變引起的測(cè)量誤差。形成標(biāo)尺進(jìn)行對(duì)比后計(jì)算對(duì)尺寸公差評(píng)價(jià)